Fotonavoltaic: Modul pukotine, vruće točke, i PID efekti su tri važna faktora koji utiču na performanse kristalnih silicija fotonavoltainih modula. Danas ću vam pokazati razloge pukotina ćelija, kako ih identificirati i spriječiti.
1. Formiranje i klasifikacija pukotina u fotonavoltainim modulima
Pukotine su relativno česta mana u kristalnim silicijumskim fotonavoltainim modulima. Laički, to su mikro pukotine koje su nevidljive golom oku. Zbog karakteristika vlastite kristalne strukture, kristalne silikonske komponente su vrlo sklone pucanju. U procesu protoka proizvodnje kristalnog silicija, mnoge veze mogu izazvati pukotine ćelija. Korijen uzrok pukotina
Vanjska sila: Na bateriju će utjecati vanjska sila tijekom zavarivanja, laminacije, uokoložavanja ili rukiranja, testiranja itd. Kada su parametri nepravilno postavljeni, kvar opreme ili nepravilno rad će izazvati pukotine.
Visoka temperatura: Ćelija se ne zagrije na niskoj temperaturi, a zatim iznenada naiđe na visoku temperaturu u kratkom vremenskom periodu i zatim se proširi, što će izazvati pukotine, kao što su pretjerana temperatura zavarivanja, nerazumno postavljanje temperature laminacije i drugi parametri.
Sirovine: Defekti u sirovinama su također jedan od glavnih faktora koji vode do pucanja.
Prema obliku ćelijske pukotine, može se grubo podijeliti na 5 tipova: pukotina drveta, sveobuhvatna pukotina, kobna pukotina, paralelna sa busbarom, okomita na mrežu i pukotine koje prodru kroz cijelu ćeliju.
2. Utjecaj "pucanja" na performanse komponenti
Struja koju stvaraju kristalne silicijumske solarne ćelije uglavnom se prikuplja i izvozi linijama busbara i tankim mrežnim linijama čije su površine okomite jedna na drugu. Stoga, kada pukotine (uglavnom pukotine paralelno sa busbarovima) uzrokuju prekid tankih rešetka, struja neće biti efektivno isporučuje na busbarove, što rezultira djelomičnom ili čak neuspjehom ćelije, a može uzrokovati i krhotine, Vruće točke itd., u isto vrijeme uzrokuju pojačanje snage komponenti.
Treće, metoda identifikacije "pukotina"
EL (Elektroluminescence, elektroluminescence) je vrsta interne opreme za otkrivanje defekta solarnih ćelija ili komponenti, što je jednostavna i učinkovita metoda za otkrivanje pukotina. Koristeći elektroluminescence princip kristalnog silicija, skoro infracrvenu sliku komponente hvata infracrvena kamera visoke rezolucije kako bi se dobili i utvrdili defekti komponente. Ima prednosti visoke osjetljivosti, brzine brzog otkrivanja, i intuitivnih rezultata. Slika ispod je rezultat testa EL, koji jasno pokazuje razne mane i pukotine.
Četvrto, razlozi za formiranje "pukotina"
Postoji mnogo faktora koji uzrokuju pukotine modula, i postoje mnoge vrste pukotina, ali neće sve pukotine uticati na ćelije, da ne spominjem "skrivenu" diskoloraciju, sve dok naučna prevencija može pravilno spriječiti pukotine modula. Tokom proizvodnog procesa treba izbjegavati nepravilnu intervenciju vanjske sile za ćelije, a pažnju treba obratiti na temperaturni raspon okruženja skladištenja. Tokom procesa zavarivanja, bateriju treba unapred držati toplom (ručno zavarivanje). Temperatura lemljeg željeza treba da utiče na uslove. U procesu proizvodnje modula, transporta, instalacije i održavanja, uzimajući u obzir karakteristike pucanja kristalnih silicijum modula, potrebno je obratiti pažnju na i poboljšati operativni proces u svakom procesu instalacije elektrane kako bi se pojava pukotina modula svela na minimum.
Pet, glavne tačke sprečavanja pukotina u fotonavoltainim modulima
U procesu proizvodnje i naknadnom skladištenju, transportu i instalaciji, izbjegavajte nepravilnu intervenciju vanjske sile na ćelijama baterija, a također obratite pažnju na raspon promjene temperature okruženja za skladištenje.